服務熱線
17701039158
產品中心
PRODUCTS CNTER當前位置:首頁
產品中心
臺式電鏡&臺階儀&原位分析
產品分類
相關文章
ZEM18掃描電鏡:桌面上的微觀成像工具 在材料分析、生命科學和工業檢測等領域,對樣品進行微米乃至納米級別的觀察是一項普遍需求。傳統的大型掃描電鏡雖性能出色,但成本高、操作復雜且對環境有要求。澤攸科技的ZEM18臺式掃描電子顯微鏡,提供了一種置于桌面的成像解決方案,讓微觀結構的日常觀察變得更為便捷。
ZEM18掃描電鏡:從科研到產業“橋梁設備” 在高校實驗室與企業研發中心之間,存在一類對設備性能與成本均敏感的用戶群體——他們需要高分辨率成像能力,同時希望設備易于維護、操作門檻低。澤攸科技ZEM18臺式掃描電子顯微鏡憑借“高性價比”與“用戶友好性”,成為連接基礎研究與產業應用的理想選擇。
ZEM18掃描電鏡:原位測試“動態觀測利器” 在材料動態行為研究中,原位測試技術已成為揭示微觀機制的關鍵手段。澤攸科技ZEM18臺式掃描電子顯微鏡通過模塊化設計,兼容拉伸、加熱、冷卻等多類原位附件,為材料力學、熱學及電化學性能研究提供一體化觀測平臺。
ZEM18掃描電鏡:科研與工業“微觀觀測站” 在材料科學、新能源開發及工業檢測領域,微觀結構的精準分析是推動技術突破的關鍵。澤攸科技ZEM18臺式掃描電子顯微鏡(SEM)憑借其緊湊設計、多功能集成與高效性能,成為實驗室與生產線上的“微觀觀測站”。
ZEM20掃描電鏡:從科研到產業“橋梁設備” 在高校實驗室與企業研發中心之間,存在一類對設備性能與成本均敏感的用戶群體——他們需要高分辨率成像能力,同時希望設備易于維護、操作門檻低。澤攸科技ZEM20臺式掃描電子顯微鏡憑借“高性價比”與“用戶友好性”,成為連接基礎研究與產業應用的理想選擇。
ZEM20掃描電鏡:原位測試的“全能搭檔” 在材料動態行為研究中,原位測試技術已成為揭示微觀機制的關鍵手段。澤攸科技ZEM20臺式掃描電子顯微鏡通過模塊化設計,兼容拉伸、加熱、冷卻等多類原位附件,為材料力學、熱學及電化學性能研究提供一體化觀測平臺。