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新聞資訊
NEWS INFORMATION在精密制造與材料科學的廣闊領域中，表面形貌的精確測量是確保產品質量、優化性能及推動技術創新的關鍵環節。白光干涉輪廓儀，作為非接觸式三維表面形貌測量的先鋒技術，以其杰出的適應性和高精度，成為了探索微觀世界表面特征的強大工具。它不僅能夠跨越材質界限，從金屬、陶瓷到高分子材料，無一不展現出其測量的廣泛兼容性，更能在復雜結構與多變的表面粗糙度、波度面前游刃有余，幾乎涵蓋了所有類型的表面形貌測量需求。白光干涉輪廓儀的核心優勢在于其利用白光干涉原理，通過分析干涉條紋的變化，實現對表面微觀...
在高級制造與材料科研領域，徠卡金相顯微鏡作為觀測材料微觀組織的“核心設備”，其光學性能的穩定性直接影響檢測結果的準確性。然而，環境灰塵、機械振動、光源老化等潛在風險，可能悄然導致圖像模糊、色差偏移甚至硬件故障。本文將從日常點檢、深度維護、故障預判三個維度，系統解析徠卡金相顯微鏡的科學養護方法，助力用戶以“預防性維護”替代“事后維修”，較大化設備生命周期價值。一、日常點檢：10分鐘/日的“光學體檢”，防患于未然每日使用前后進行快速點檢，可及時發現90%以上的潛在問題：1.光學系...
在礦物學研究中，許多關鍵信息隱藏在傳統光學顯微鏡無法觸及的維度——稀土元素的微量分布、晶格缺陷的發光特征、流體包裹體的化學成分……這些“隱形線索”往往需要借助熒光信號才能顯現。徠卡偏光顯微鏡的熒光模塊通過精準激發礦物特定發光波段，結合偏振光對晶格取向的解析能力，為地質學家提供了一套“光色雙修”的礦物分析利器，讓深藏于巖石中的微觀秘密無所遁形。一、熒光激發：從“暗場”到“明場”的礦物發光革命傳統偏光顯微鏡依賴透射光觀察礦物，而熒光模塊通過高能光源（如汞燈、LED或激光）與窄帶濾...
你有沒有好奇過，為什么飄落的雪花總帶著精致的六角紋路？為什么冰面明明是堅硬的固體，卻能讓運動員在上面自由滑行？在央視紀錄片《科學之美》里，這些藏在冰雪中的奧秘，被一個“微觀神器”一一揭開——它就是澤攸科技的原位冷凍樣品桿。零下170℃的“抓拍”：雪花誕生的第一瞬間紀錄片中，中國科學院物理研究所的科學家們做了一個大膽的實驗：在零下170℃的低溫環境中，讓氣態的水瞬間凝結成冰晶。這個過程快得像閃電，稍有偏差就會錯過雪花形成的關鍵瞬間。這時候，澤攸科技的原位冷凍樣品桿成了“神助攻”...
在地質、材料科學及高分子研究中，徠卡偏光顯微鏡通過偏振光技術可清晰呈現各向異性物質的雙折射特性。然而，若空白區域未顯示為純黑色，可能干擾晶體結構或應力場的精確分析。以下從硬件調試與軟件優化兩個維度，系統闡述實現空白部分純黑顯示的操作方法。一、硬件調試：構建全消光光路系統1.偏振片正交校正將黑云母薄片置于載物臺中央，使用10×物鏡聚焦。旋轉檢偏鏡至視域全部消光（全黑狀態），此時上下偏振片振動方向正交。若存在殘余光強，需松開檢偏鏡固定螺絲，微調其角度至視域最暗，確保偏振片正交誤差...
在半導體制造、納米材料研發及微電子器件測試領域，對樣品與測試設備進行納米級電學表征是突破技術瓶頸的關鍵。北京儀光推出的微納探針臺憑借其亞納米級定位精度與多維度功能集成，成為推動微納電學研究邁向新高度的核心工具。一、三維空間納米級定位：突破物理極限的操控藝術澤攸微納探針臺采用壓電陶瓷驅動技術，通過三軸獨立運動臺實現X/Y/Z方向±10mm的行程控制，運動分辨率達0.5nm。其核心創新在于柔性鉸鏈導向系統與零間隙傳動設計，確保在宏觀行程范圍內仍能保持亞納米級定位精度...
澤攸臺階儀是一種用于精確測量和檢測表面形貌的高精度儀器，廣泛應用于材料科學、電子制造、機械工程等領域。它的主要功能是測量物體表面不同位置的高度差異，從而獲取表面微觀形態的詳細數據。作為現代精密測量工具，該儀器通過自動化操作和高精度探測，能夠對樣品進行全面的分析，為工業生產、質量控制、科研等提供強有力的數據支持。一、工作原理澤攸臺階儀的工作原理基于精確的表面高度測量。其核心原理是利用傳感器在樣品表面掃描，通過接觸或非接觸方式測量物體表面的高度變化。通過探頭的微小位移，儀器能夠獲...
澤攸臺式掃描電鏡是一種用于觀察樣品表面形貌和微結構的先進儀器。與傳統的光學顯微鏡不同，該電鏡利用電子束掃描樣品表面，通過檢測二次電子和反射電子來獲得圖像，這使得它能夠提供遠高于光學顯微鏡的分辨率。隨著技術的不斷發展，它已成為現代科研、工業和醫學領域至關重要的工具，尤其在材料科學、生物學、電子學等領域發揮著重要作用。一、工作原理澤攸臺式掃描電鏡通過高能電子束掃描樣品表面，激發樣品發射二次電子、反射電子、X射線等信號。這些信號被探測器捕捉并轉化為圖像，通過顯示器展示出來。與傳統光...