在材料科學與生命科學的微觀研究中,澤攸電鏡 ZEM15 以穩定性能成為科研人員的得力工具。其核心電子光學系統采用高品質永磁材料,配合精密加工的極靴,形成均勻穩定的磁場,為電子束的聚焦與偏轉提供可靠基礎。澤攸電鏡 ZEM15:微觀探索的可靠伙伴
該型號加速電壓范圍為 0.5 - 15kV,可根據樣品特性靈活調節:低電壓下適合觀察不導電樣品的表面形貌,減少電荷積累;高電壓則能穿透較厚樣品,獲取內部結構信息。放大倍數覆蓋 200 - 1,000,000 倍,從微米級的整體觀察到納米級的細節分析均可勝任。樣品室直徑達 120mm,支持多種樣品臺安裝,最大可放置 50mm 直徑的樣品。
在成像模式上,具備二次電子像(SE)和背散射電子像(BSE)功能:SE 像能清晰呈現樣品表面的凹凸形貌,BSE 像則可反映元素分布差異。設備采用模塊化設計,機械結構選用高強度鋁合金與不銹鋼,既保證剛性又減輕重量,便于實驗室內部移動。
使用時,通過觸控面板或配套軟件即可完成操作,新手經過簡單培訓就能掌握基本流程。適用于高校科研、企業質檢等場景,如觀察半導體芯片的布線結構、分析金屬材料的晶粒分布等,為研究與生產提供直觀的微觀圖像支持。澤攸電鏡 ZEM15:微觀探索的可靠伙伴