澤攸電鏡兼顧效率與細節(jié)的電鏡

產(chǎn)品簡介

澤攸電鏡兼顧效率與細節(jié)的電鏡
在半導體行業(yè)，EM2000 可用于芯片表面的缺陷檢測，快速定位劃痕、污染等問題；在材料科學領域，能觀察復合材料的界面結構，分析相分布情況；在地質研究中，可識別礦物顆粒的微觀形態(tài)，輔助礦物鑒定。其高效的工作能力與精準的成像效果，為各領域的研究與生產(chǎn)提供了有力支持。

產(chǎn)品型號：

更新時間：2025-08-25

廠商性質：代理商

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

臺式電鏡&臺階儀&原位分析

澤攸澤攸臺式掃描電鏡澤攸臺階儀澤攸探針臺及低溫系統(tǒng) 澤攸TEM原位方案(樣品桿) 澤攸SEM原位解決方案

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澤攸電鏡在設計上注重提升工作效率，同時保持對細節(jié)的捕捉能力。電子槍采用 LaB6 燈絲，相較于傳統(tǒng)鎢燈絲，亮度提高約 5 倍，使用壽命延長至 2000 小時以上，減少了燈絲更換頻率，降低了維護成本。鏡筒內部關鍵部件采用鉬合金材料，耐高溫且穩(wěn)定性好，適合長時間連續(xù)工作。澤攸電鏡兼顧效率與細節(jié)的電鏡

加速電壓范圍擴展至 2kV-40kV，束流穩(wěn)定度優(yōu)于 1.5%/h，確保在長時間測量過程中圖像質量的一致性。二次電子像分辨率在 30kV 時達到 3nm，背散射電子像分辨率 5nm，能清晰呈現(xiàn)納米級別的微觀結構。放大倍數(shù)覆蓋 100 倍 - 2000000 倍，滿足從宏觀到微觀的多尺度觀察需求。

樣品室采用大尺寸設計，直徑 200mm，高度 180mm，可容納更大尺寸的樣品或特殊樣品臺。配備全自動樣品臺，移動范圍 X/Y 100mm×100mm，定位精度 1μm，支持預設路徑自動測量，適合批量樣品的快速檢測。真空系統(tǒng)由機械泵與渦輪分子泵組成，抽氣時間短，從大氣到工作真空（≤5×10??Pa）僅需 6 分鐘。

操作界面采用觸控屏設計，配合鼠標鍵盤操作，軟件內置多種測量模板，如顆粒分析、線寬測量等，可自動識別并計算相關參數(shù)。使用時，通過樣品加載室快速更換樣品，無需破壞鏡筒真空，大幅縮短了樣品更換時間。

在半導體行業(yè)，可用于芯片表面的缺陷檢測，快速定位劃痕、污染等問題；在材料科學領域，能觀察復合材料的界面結構，分析相分布情況；在地質研究中，可識別礦物顆粒的微觀形態(tài)，輔助礦物鑒定。其高效的工作能力與精準的成像效果，為各領域的研究與生產(chǎn)提供了有力支持。澤攸電鏡兼顧效率與細節(jié)的電鏡

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