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技術文章
TECHNICAL ARTICLESSensoPro是提高效率和確保高質量生產的最佳軟件。我們將演示如何使用SensoPro改進制造過程。工業化是制造過程中的重要一步。SensoPro是通過自動分析表面形態，將開發線和生產連接起來，將成本降到最*，提高收益性的軟件解決方案。SensoPro使下載多個記錄變得容易。例如，可能有一組形狀與組件表面不匹配和一組形狀與組件的表面匹配。然后，您可以計算和放置SensoPro參數，并找到更好地分離這兩個數據集的參數。另外，分析軟件可以使用多個測量程序，可以對不同的參數使用相...
深圳市富田區最近正式任命了70名“AI公務員”。這標志著政府部門進入了“硅基同事”與人合作的新時代。這項改革基于DeepSeek2.0模型，將240個政府場景分解為標準化模塊，并在專用混合架構中實現“跨”式智能組合。正式文件格式更正準確率95%以上，各部門分工效率80%以上。然而這場“靜悄悄的革命”背后，是百億級晶體管密度的AI芯片在支撐——幾納米工藝的芯片上，會導致系統崩潰，傳統光學顯微鏡已經成為視力受損地區致命的渦輪。當人工智能公務員以僅為人力成本五十分之一的成本不間斷地...
白光干涉儀作為光學測量領域的重要工具，其光譜干涉模式基于光的干涉原理與光譜分析技術，實現了對物體表面形貌、薄膜厚度等參數的高精度測量。該模式利用白光作為光源，通過特殊的分光與干涉機制，將光學測量精度提升至納米級。一、光譜干涉模式的基本原理白光干涉儀的光譜干涉模式基于多色光干涉特性。白光作為復合光源，包含連續光譜成分。當其經過擴束準直后，通過分光棱鏡被分成兩束相干光：一束光經被測表面反射，另一束光經參考鏡反射。兩束反射光最終匯聚并發生干涉，在CCD相機感光面形成明暗相間的干涉條...
Sensofar3D輪廓儀提高質量控制過程效率的關鍵創新。這些創新帶來了更強大的測量能力、更全面的分析和改進的自動化。新功能新的技術進步：探索數碼變焦等新功能。性能*越，適用于大型設備：了解Swide3D掃描儀如何幫助您測量大型樣品和大型部件。該系統的關鍵方面是寬視角（FOV）、超快速數據采集、靈活的設置和集成的自動化工具。數據提取的可能性：了解S-Wide3D輪廓儀進行的各種測量，包括粗糙度、平面度、關鍵尺寸、GD&T和CAD比較。Swide3D輪廓測量儀在哪些方面至關重要...
掃描電鏡（ScanningElectronMicroscope,SEM）作為現代科學研究的重要工具，憑借其高分辨率、大景深和強大的綜合分析能力，在材料科學、生物學、醫學等領域發揮著不可替代的作用。本文將深入解析SEM的工作原理、核心優勢、應用場景及樣品制備要點，帶您全面了解這一微觀世界的“透視眼”。一、掃描電鏡（SEM）的工作原理與核心構造1.電子束與物質的相互作用掃描電鏡的核心原理基于高能電子束與樣品表面的相互作用。當電子槍發射的電子束經加速和聚焦后，以納米級直徑掃描樣品表...
PCB特性表征透孔鉆孔關于通孔，通孔安裝技術（THT）和表面貼裝技術（SMT）是將元件固定在印刷電路板上*常用的兩種方法。更確切地說，通孔安裝技術（THT）中使用通孔，這些通孔會貫穿印刷電路板的整個寬度。就表面貼裝技術（SMT）而言，盲孔僅會深入電路板一定深度，以便連接內部電路的不同層。Sensofar光學輪廓儀已多次被用于表征穿孔的生成方法以及電路板上的孔洞，以獲得精確且準確的結果。通孔的測量技術選擇是基于樣品的粗糙度來進行的，而盲孔則始終使用干涉儀進行測量。這種光學技術在...
在人工智能、半導體、新材料等前沿領域高速發展的今天，微觀檢測技術的精度直接決定了*端產業的突破速度。澤攸科技憑借自主研發的ZEM系列臺式掃描電鏡，以納米級成像能力與工業級實用性的雙重優勢，正成為國產*端儀器領域的標*產品，為AI芯片、生物醫藥、新能源等產業提供關鍵技術支持。一、技術突破：從實驗室到生產線的跨越傳統掃描電鏡因體積龐大、操作復雜、維護成本高昂等問題，長期受限于實驗室場景。澤攸科技通過電子光學系統自主創新與模塊化設計，推出*球*一款可規?；渴鸬呐_式掃描電鏡系列，實...
Sensofar共聚焦白光干涉儀作為一款在表面測量和分析領域廣泛應用的精密儀器，其高精度、多功能性和非接觸式測量的特點，使其在科研和工業領域展現出了廣泛的應用價值。以下是對其在不同領域應用的詳細探討：一、科研領域材料微觀結構研究Sensofar共聚焦白光干涉儀能夠分析材料的表面形貌，幫助科研人員深入了解材料的微觀結構、晶體取向等信息。這對于研究材料的物理和化學性質具有重要意義，例如研究金屬材料的疲勞裂紋萌生和擴展機制、新型半導體材料的生長機理等。納米材料表征在納米技術領域，對...