在納米材料研發、先進儲能器件優化及半導體制造等領域，材料在服役環境中的動態行為研究至關重要。北京儀光憑借澤攸SEM/TEM原位分析系統，突破了傳統靜態表征的局限，為科學家提供了實時觀測材料微觀結構演變的“納米級顯微鏡”，成為推動材料科學突破的關鍵工具。
 

　　1.原位SEM：動態形變與失效機制的“現場直播”

　　ZEM系列臺式掃描電鏡搭載的原位拉伸/壓縮模塊，可在真空或可控氣氛環境中對金屬、陶瓷、高分子材料進行納米級精度的力學加載。例如，在鋰離子電池隔膜研究中，通過原位SEM可實時觀察隔膜在拉伸過程中的孔隙率變化，發現當拉伸應變超過15%時，隔膜內部纖維網絡開始出現不可逆斷裂，這一發現直接指導了隔膜熱處理工藝的優化，使電池安全性提升30%。更值得一提的是，其原位加熱臺可在-196℃至1200℃寬溫域內工作，配合背散射電子探測器，可清晰捕捉合金材料在相變過程中的晶界遷移軌跡，為高溫合金設計提供了關鍵數據支撐。

　　2.原位TEM：原子尺度反應的“分子電影”

　　原位TEM系統將時間分辨率提升至毫秒級，配合雙傾樣品桿，可實現360°觀測。在鈉離子電池負極材料研究中，該系統成功記錄了SnO?@HMCNS復合材料在鈉化/脫鈉過程中的原子級結構演變：當鈉離子嵌入時，SnO?納米顆粒與碳基體界面形成動態SEI膜，這一過程通過高分辨TEM圖像被精確捕捉，揭示了親鈉位點與多孔骨架的協同作用機制。該成果發表于《Advanced Functional Materials》，驗證了原位TEM在揭示材料動態行為方面的不可替代性。

　　3.多模態融合：從結構到性能的“全鏈條解析”

　　澤攸原位系統突破單一表征模式，實現力學-電學-熱學多場耦合分析。例如，在二維材料轉移研究中，其原位探針臺可同步監測石墨烯在彎曲過程中的電阻變化，結合EDS能譜分析，發現當彎曲曲率超過0.5mm?¹時，晶界處氧雜質濃度顯著升高，導致載流子遷移率下降40%。這種多參數關聯分析，為柔性電子器件的可靠性設計提供了量化依據。

　　從原子排列的實時追蹤到宏觀性能的源頭解析，澤攸SEM/TEM原位分析系統正重塑材料研發范式。其自主可控的技術路線，不僅補充了國內高級精密儀器的空白，更以“納米尺度實時觀測”能力，推動著新能源、半導體、航空航天等領域的技術革新。