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在現(xiàn)代工業(yè)制造、科研實驗和質(zhì)量控制領(lǐng)域,高精度的表面形貌測量至關(guān)重要。無論是半導體、光學元件、精密加工,還是生物醫(yī)學和材料科學研究,都需要高分辨率、高重復性的測量手段。西班牙Sensofar公司推出的共聚焦白光干涉儀(Confocal White Light Interferometer)憑借其超高精度、快速測量和多功能性,成為全球表面測量技術(shù)的選擇。Sensofar高精度表面測量的革命性工具
Sensofar 白光干涉儀從納米尺度到工業(yè)尺度當一塊半導體晶圓上的納米級缺陷可能導致整個芯片失效,當 PCB 板上 0.1 微米的通孔誤差會影響航天器通信系統(tǒng),當心臟支架表面的粗糙度直接關(guān)系到患者生命安全 —— 精密制造領(lǐng)域的每一個維度都在呼喚更精準、更高效的測量技術(shù)。來自西班牙的 Sensofar 集團,以其革命性的共聚焦白光干涉測量技術(shù),正在重新定義全球計量工具的標準。
Sensofar白光干涉:不受反光材料的影響,Sensofar 表面輪廓儀 S neox的光學干涉技術(shù)Sensofar 白光干涉S neox儀高數(shù)值孔徑物鏡 的一大核心亮點。在其傳感器頭中,巧妙集成了干涉、共聚焦、Ai 多焦面疊加和膜厚測量等多種*測量技術(shù)。只需輕松點擊一次,系統(tǒng)便能依據(jù)當前測量任務(wù)的具體需求,自動智能地切換到較為適配的優(yōu)良技術(shù)。
西班牙Sensofar表面輪廓儀S neox:干涉原理Sensofar 表面輪廓儀 S neox的光學干涉技術(shù)Sensofar 白光干涉S neox儀高數(shù)值孔徑物鏡 的一大核心亮點。在其傳感器頭中,巧妙集成了干涉、共聚焦、Ai 多焦面疊加和膜厚測量等多種*測量技術(shù)。只需輕松點擊一次,系統(tǒng)便能依據(jù)當前測量任務(wù)的具體需求,自動智能地切換到較為適配的優(yōu)良技術(shù)。
西班牙Sensofar相位差干涉模式介紹Sensofar 表面輪廓儀 S neox的光學干涉技術(shù)Sensofar 白光干涉S neox儀高數(shù)值孔徑物鏡 的一大核心亮點。在其傳感器頭中,巧妙集成了干涉、共聚焦、Ai 多焦面疊加和膜厚測量等多種*測量技術(shù)。只需輕松點擊一次,系統(tǒng)便能依據(jù)當前測量任務(wù)的具體需求,自動智能地切換到較為適配的優(yōu)良技術(shù)。
Sensofar S neox干涉技術(shù)亞納米級分辨率Sensofar 表面輪廓儀 S neox的光學干涉技術(shù)Sensofar 白光干涉S neox儀高數(shù)值孔徑物鏡 的一大核心亮點。在其傳感器頭中,巧妙集成了干涉、共聚焦、Ai 多焦面疊加和膜厚測量等多種*測量技術(shù)。只需輕松點擊一次,系統(tǒng)便能依據(jù)當前測量任務(wù)的具體需求,自動智能地切換到較為適配的優(yōu)良技術(shù)。
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