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詳解布魯克ContourX系列輪廓儀核心技術 在表面計量學領域,對物體表面微觀形貌進行非接觸、高分辨率的測量是一項關鍵需求。
詳解布魯克ContourX系列輪廓儀核心技術 布魯克ContourX系列三維光學輪廓儀的測量能力,源于其核心的白光干涉技術(WLI)和穩健的機械設計。理解這些技術細節,有助于用戶更好地發揮儀器的潛能。
布魯克ContourX輪廓儀專注高效小樣品檢測 在需要處理較大型工件的研發與質量檢測環節,對測量設備的樣品容量提出了要求。布魯克ContourX-100三維光學輪廓儀正是為滿足此類需求而設計。
布魯克ContourX系列輪廓儀平衡性能與靈活性 在需要處理較大型工件的研發與質量檢測環節,對測量設備的樣品容量提出了要求。布魯克ContourX-500三維光學輪廓儀正是為滿足此類需求而設計。
布魯克ContourX 輪廓儀應對大尺寸樣品測量 在需要處理較大型工件的研發與質量檢測環節,對測量設備的樣品容量提出了要求。布魯克ContourX-500三維光學輪廓儀正是為滿足此類需求而設計。
認識布魯克ContourX系列三維光學輪廓儀 布魯克公司的ContourX系列三維光學輪廓儀,涵蓋了ContourX-500, ContourX-200和ContourX-100三種型號,為不同領域的表面三維形貌測量提供了多樣的選擇。這個系列的產品基于白光干涉技術(也稱垂直掃描干涉術),通過非接觸的方式,能夠對從超光滑到相當粗糙的表面進行三維形貌測量和量化分析。