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澤攸ZEM20臺式掃描電子顯微鏡操作簡便，僅需鼠標即可完成所有操作，一體式聚光鏡，無需手動調節光闌。

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ZEM 20Pro單晶燈絲臺式掃描電鏡采用單晶燈絲，最高放大36萬倍，分辨率可達3nm。自動亮度對比度、自動聚焦、大圖拼接。超大樣品倉可集成多種原位拓展平臺，滿足不同實驗及檢測需求。

PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統，是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量，并可在電學測量的同時，動態、高分辨地對樣品的晶體結構、化學組分、元素價態進行綜合表征，大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應用領域。

ZEM18掃描電鏡：從科研到產業“橋梁設備” 在高校實驗室與企業研發中心之間，存在一類對設備性能與成本均敏感的用戶群體——他們需要高分辨率成像能力，同時希望設備易于維護、操作門檻低。澤攸科技ZEM18臺式掃描電子顯微鏡憑借“高性價比”與“用戶友好性”，成為連接基礎研究與產業應用的理想選擇。

ZEM18掃描電鏡：原位測試“動態觀測利器” 在材料動態行為研究中，原位測試技術已成為揭示微觀機制的關鍵手段。澤攸科技ZEM18臺式掃描電子顯微鏡通過模塊化設計，兼容拉伸、加熱、冷卻等多類原位附件，為材料力學、熱學及電化學性能研究提供一體化觀測平臺。