在材料微觀特性探究、元件質(zhì)量把控的科研及工業(yè)場(chǎng)景里，表面輪廓測(cè)量的精度與效率，直接影響著研究進(jìn)展與產(chǎn)品品質(zhì)。布魯克白光干涉光學(xué)輪廓儀，以其精巧設(shè)計(jì)與實(shí)用功能，成為眾多專業(yè)人士信賴的得力工具。下面為你介紹兩款該系列的產(chǎn)品。布魯克白光干涉儀：輪廓測(cè)量新選擇
一、ContourX - 500：桌面旗艦，高效精準(zhǔn)
產(chǎn)品細(xì)節(jié)：緊湊設(shè)計(jì)，操作便捷
ContourX - 500 作為桌面旗艦型號(hào)，外觀設(shè)計(jì)緊湊，占用空間小，非常適合實(shí)驗(yàn)室空間有限的環(huán)境。其操作界面簡(jiǎn)潔直觀，各類(lèi)控制按鈕布局合理，新手也能快速上手。樣品臺(tái)設(shè)計(jì)，帶編碼器的樣品臺(tái)可實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)定位，頭部?jī)A斜設(shè)計(jì)方便從不同角度測(cè)量表面特征，減少跟蹤誤差，確保測(cè)量的準(zhǔn)確性與可重復(fù)性。設(shè)備還配備一只 5MP 攝像頭，并采用 1200x1000 測(cè)量陣列，有效降低噪聲、擴(kuò)大視場(chǎng)并提高橫向分辨率 ，讓微小細(xì)節(jié)無(wú)所遁形。
產(chǎn)品性能：技術(shù)融合，穩(wěn)定可靠
這款輪廓儀融合了優(yōu)良的白光干涉技術(shù)與精密光學(xué)系統(tǒng)。白光干涉技術(shù)通過(guò)分析不同波長(zhǎng)光干涉產(chǎn)生的條紋，精準(zhǔn)識(shí)別樣品表面微觀起伏。在測(cè)量過(guò)程中，設(shè)備運(yùn)行穩(wěn)定，受外界環(huán)境干擾影響小，保障測(cè)量結(jié)果的穩(wěn)定性與一致性。它具備出色的 Z 軸分辨率和準(zhǔn)確度，擁有布魯克落地式白光干涉（WLI）儀器廣受認(rèn)可的優(yōu)勢(shì)，可在多種復(fù)雜表面上獲取高質(zhì)量測(cè)量數(shù)據(jù)。測(cè)量范圍靈活，能根據(jù)樣品需求調(diào)整參數(shù)，無(wú)論是對(duì)大面積區(qū)域進(jìn)行快速掃描，還是針對(duì)微小局部進(jìn)行精細(xì)測(cè)量，都能輕松勝任。
用材講究：品質(zhì)選材，經(jīng)久耐用
布魯克在 ContourX - 500 的選材上十分用心。核心光學(xué)部件采用高品質(zhì)光學(xué)玻璃，具備良好的透光性和低色散特性，減少光線傳播中的能量損失與圖像畸變，保證測(cè)量成像清晰準(zhǔn)確。內(nèi)部機(jī)械結(jié)構(gòu)選用高強(qiáng)度、耐磨的金屬材料，如傳動(dòng)部件采用優(yōu)質(zhì)合金鋼，確保長(zhǎng)期高頻使用下，依然維持精確的運(yùn)動(dòng)精度和良好的機(jī)械性能，延長(zhǎng)設(shè)備使用壽命，降低維護(hù)成本。設(shè)備外殼堅(jiān)固且抗腐蝕，有效保護(hù)內(nèi)部精密部件，適應(yīng)多樣的使用環(huán)境。
參數(shù)詳情
廣泛用途
在半導(dǎo)體工藝的質(zhì)量保證與質(zhì)量控制（QA/QC）計(jì)量中，ContourX - 500 可精確測(cè)量晶圓表面的平整度、刻蝕圖案的深度與寬度等參數(shù)，助力提升芯片制造質(zhì)量。在眼科領(lǐng)域，能對(duì)隱形眼鏡等光學(xué)器件的表面形貌進(jìn)行檢測(cè)，確保產(chǎn)品符合光學(xué)性能標(biāo)準(zhǔn)。對(duì)于微機(jī)電系統(tǒng)（MEMS）器件的研發(fā)表征，該輪廓儀可清晰呈現(xiàn)微小結(jié)構(gòu)的表面特征，為器件性能優(yōu)化提供關(guān)鍵數(shù)據(jù)支持。
使用說(shuō)明
初次使用前，仔細(xì)檢查設(shè)備外觀有無(wú)損壞，各部件連接是否牢固。將設(shè)備放置在平穩(wěn)、無(wú)振動(dòng)的工作臺(tái)上，確保工作環(huán)境溫度、濕度適宜，避免環(huán)境因素影響測(cè)量精度。連接電源及相關(guān)配件后，按照說(shuō)明書(shū)進(jìn)行設(shè)備初始化設(shè)置。安裝樣品時(shí)，根據(jù)樣品特性選擇合適的固定方式，確保樣品穩(wěn)固且處于正確測(cè)量位置。設(shè)置測(cè)量參數(shù)時(shí)，依據(jù)樣品類(lèi)型、測(cè)量目的謹(jǐn)慎選擇測(cè)量范圍、分辨率、掃描模式等。測(cè)量過(guò)程中，密切關(guān)注設(shè)備運(yùn)行狀態(tài)，若發(fā)現(xiàn)圖像異常、測(cè)量數(shù)據(jù)波動(dòng)過(guò)大等情況，立即停止測(cè)量，排查故障原因，如檢查光路是否有遮擋、樣品是否發(fā)生位移等。測(cè)量完成后，及時(shí)關(guān)閉設(shè)備電源，清理樣品臺(tái)，定期對(duì)設(shè)備進(jìn)行全面清潔與維護(hù)，包括清潔光學(xué)部件、潤(rùn)滑機(jī)械傳動(dòng)部件等，確保設(shè)備始終處于良好工作狀態(tài)。布魯克白光干涉儀：輪廓測(cè)量新選擇
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