布魯克白光干涉輪廓儀多領域測量的實用之選

產品簡介

布魯克白光干涉輪廓儀多領域測量的實用之選
在微觀測量的復雜世界中，布魯克 ContourGT - X 白光干涉光學輪廓儀憑借自身優勢，為眾多行業提供了實用的測量解決方案，成為科研人員與工業生產者信賴的得力工具。

產品型號：

更新時間：2025-08-20

廠商性質：代理商

訪問量：75

產品咨詢 17701039158

產品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

三維光學輪廓儀

布魯克 BEUKER白光干涉光學輪廓儀 Sensofar 儀光新型共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR 3D光學輪廓儀 SENSOFAR共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR結構光三維輪廓儀 SENSOFAR平面度測量干涉儀 ZYGO三維光學輪廓儀布魯克三維光學輪廓儀

查看全部產品

非接觸式粗糙度測量儀校準規范，精度保障與標準化實施要點

ZEM18電鏡在工業檢測上的應用

徠卡顯微鏡操作流程詳解

探秘半導體產業基石：三大核心材料及其全球產區格局

詳細介紹在線留言

在微觀測量的復雜世界中，布魯克 ContourGT - X 白光干涉光學輪廓儀憑借自身優勢，為眾多行業提供了實用的測量解決方案，成為科研人員與工業生產者信賴的得力工具。

布魯克白光干涉輪廓儀多領域測量的實用之選

產品細節：合理布局，操作便利

ContourGT - X 的外觀設計注重實用性，各部件布局合理。操作面板簡單易懂，操作人員可快速進行參數設置與功能切換。樣品臺具備良好的兼容性，能適配多種形狀和尺寸的樣品，且調整過程平穩順暢，確保樣品在測量時處于最佳位置。設備的光學系統防護到位，有效減少灰塵、濕氣等對測量的不良影響。

產品性能：技術協同，表現優良

該輪廓儀融合了*的白光干涉技術與精密的光學成像系統，通過對干涉條紋的精確分析，獲取樣品表面的詳細三維信息。測量過程中，設備運行穩定，數據采集高效，能在不同類型的表面上獲取可靠的測量結果。其測量范圍可根據實際需求靈活調整，既能對微小區域進行高分辨率測量，又能對較大面積進行快速掃描，滿足多樣化的測量任務。

用材講究：品質優先，經久實用

布魯克在 ContourGT - X 的選材上嚴格遵循品質原則。光學部件采用優質光學材料，保證光線的高效傳輸與成像的清晰度。機械結構選用高強度、抗疲勞的金屬材料，使得設備在長期使用過程中，依然能保持良好的運動精度和穩定性。設備外殼具備一定的防護能力，可適應較為復雜的工作環境。

參數詳情

參數項	具體數值
橫向分辨率	滿足常見微觀測量精度要求
縱向測量范圍	多種量程可供選擇
樣品臺承載能力	可承載相應重量的樣品
測量速度	依據測量模式靈活變化
數據處理能力	具備一定的數據處理與分析功能

廣泛用途

在電子制造領域，可用于檢測電路板表面的焊接質量、元件引腳的平整度等，保障電子產品的性能穩定。在珠寶加工行業，能對寶石的表面粗糙度、切割面的平整度進行測量，提升珠寶品質。在教育科研中，幫助學生與研究人員觀察材料的微觀結構，為學術研究提供數據支持。此外，在精密模具制造、航空航天零部件檢測等領域，也發揮著重要的測量作用。憑借出色的產品細節設計、可靠的性能表現、優質的用材以及廣泛的用途，布魯克 ContourGT - X 白光干涉光學輪廓儀在微觀測量領域展現出強大的實用價值，助力各行業在精密測量方面不斷進步。布魯克白光干涉輪廓儀多領域測量的實用之選

上一個：布魯克白光干涉輪廓儀落地式測量的革新力量