布魯克白光干涉光學輪廓儀包含多個型號，常見的有Explorer系列和Contour系列。Explorer系列注重靈活性和擴展性，支持多種附件和自定義配置；Contour系列側重于自動化和大批量測量，適合工業環境。布魯克白光干涉輪廓儀型號與參數詳解

主要參數包括：垂直分辨率通常為0.1納米至1納米，橫向分辨率取決于物鏡，范圍在0.3微米到10微米之間。掃描速度可達每秒數微米至數百微米，具體取決于測量模式和精度設置。視場大小隨物鏡變化，從0.1毫米到10毫米不等。

儀器結構采用鋁合金框架，重量較輕且剛性較好。光學部件使用石英玻璃和抗反射涂層，提高透光率和耐用性。電源模塊符合國際安全標準，適應100-240V電壓輸入。

該產品用于精密制造、科研實驗和質量控制等領域。例如，在汽車工業中，可用于發動機部件表面磨損分析；在 academia，支持材料表面研究。使用前需進行開機校準，通過軟件向導完成初始設置。測量過程中，用戶可選擇自動或手動模式，軟件實時顯示三維形貌圖像和數據曲線。

維護方面，建議定期檢查光學路徑清潔度和機械部件潤滑情況。長期停用時，需覆蓋防塵罩并存儲于干燥環境中。

在材料方面，儀器基座采用阻尼材料以減少外部振動，光學組件安裝在溫度穩定性較高的結構上，降低熱脹冷縮帶來的誤差。樣品臺通常由不銹鋼制成，表面經過防腐蝕處理，適合多種環境使用。

該產品提供多種型號，例如標準型、高速型和高分辨率型，滿足不同應用場景的需求。標準型號適用于常規實驗室環境，而高速型號適合生產線上的快速檢測。高分辨率型號則針對科研領域，提供更細致的表面細節捕捉。

布魯克白光干涉光學輪廓儀通過白光干涉技術實現高分辨率表面測量。其性能特點包括良好的重復性和適應性，能夠處理不同反射率的樣品，從高反光金屬到透明薄膜均可測量。

設備采用LED白光光源，壽命較長且光譜穩定，有利于保持測量的一致性。干涉鏡頭內置參考鏡，通過壓電陶瓷驅動器實現納米級精度的掃描移動。系統內置振動補償算法，減少環境干擾對測量結果的影響。

在材料方面，儀器基座采用阻尼材料以減少外部振動，光學組件安裝在溫度穩定性較高的結構上，降低熱脹冷縮帶來的誤差。樣品臺通常由不銹鋼制成，表面經過防腐蝕處理，適合多種環境使用。

該產品提供多種型號，例如標準型、高速型和高分辨率型，滿足不同應用場景的需求。標準型號適用于常規實驗室環境，而高速型號適合生產線上的快速檢測。高分辨率型號則針對科研領域，提供更細致的表面細節捕捉。

用途廣泛，包括MEMS器件測量、涂層厚度分析、磨損表面檢測等。使用時需注意環境光線控制，避免強光直射干擾測量。軟件提供多種分析工具，如粗糙度計算、體積分析和輪廓對比，幫助用戶全面評估表面特性。布魯克白光干涉輪廓儀型號與參數詳解