布魯克三維輪廓儀：實驗室微觀測量優選
在科研實驗室的微觀測量工作中，一款穩定且易用的輪廓儀能顯著提升研究效率。布魯克三維光學輪廓儀 ContourX-500，憑借貼合實驗室場景的設計與可靠性能，成為眾多科研人員的常用工具。
產品細節
ContourX-500 采用桌面式緊湊設計，機身尺寸小巧，無需占用過多實驗臺空間，輕松融入各類實驗室布局。操作面板布局清晰，按鍵標識簡潔易懂，搭配高清觸控顯示屏，即使是初次操作的人員，也能通過引導式菜單快速完成參數設置。樣品臺采用高精度平移結構，配備可調節的樣品夾具，能穩固固定從微小芯片到中等尺寸光學鏡片的各類樣品，且移動過程平穩無震，確保測量區域精準對準。設備光學鏡頭處設有防塵保護蓋，閑置時可有效隔絕灰塵，保障光學部件清潔；側面預留數據接口，方便連接電腦、打印機等外部設備，實現數據導出與報告打印。
產品性能
ContourX-500 融合白光干涉與共聚焦測量技術，可根據樣品表面特性自動切換測量模式。面對光滑的光學元件表面，白光干涉技術能清晰捕捉納米級的高度變化；測量粗糙的金屬或塑料表面時，共聚焦模式則可提供高橫向分辨率的細節成像。設備測量過程中數據采集連貫，多次測量同一位置的結果一致性較好，能為科研實驗提供穩定的數據支持。其測量速度可根據需求調節，快速掃描模式適合大面積樣品的初步檢測，精細掃描模式則能滿足小區域高分辨率測量需求，兼顧效率與精度。
用材講究
核心光學部件選用高透光率的光學玻璃，經過特殊鍍膜處理，減少光線反射與色散，確保成像清晰。樣品臺臺面采用耐磨的陶瓷材料，表面經過精細拋光，既具備良好的平整度，又能抵常使用中的刮擦，延長使用壽命。內部機械傳動部件采用高強度合金，配合精密導軌，保障長期使用后的運動精度，減少部件磨損帶來的測量偏差。設備外殼采用防腐蝕的工程塑料，輕便且堅固，能保護內部元件免受實驗室常見化學試劑的輕微腐蝕。
參數詳情
廣泛用途
在材料科學研究中，ContourX-500 可用于測量薄膜厚度、表面粗糙度，助力分析涂層制備工藝對材料性能的影響；在光學元件研發領域，能檢測透鏡、棱鏡的表面面形誤差與邊緣缺陷，為元件性能優化提供數據；在生物醫學研究中，可觀察細胞培養載體的表面微觀結構，研究其對細胞黏附與生長的影響；此外，在微電子領域，還能用于檢測芯片封裝表面的焊點高度與平整度，輔助改進封裝工藝。
使用說明
使用前，需將 ContourX-500 放置在水平、無明顯振動的實驗臺上，檢查電源連接是否正常，打開設備電源進行預熱，預熱時間建議不少于 30 分鐘。清潔樣品表面的灰塵與油污，根據樣品尺寸調整樣品夾具，將樣品平穩固定在樣品臺上，確保樣品表面無傾斜。通過觸控屏選擇測量模式，設置掃描范圍、分辨率、速度等參數，若需保存測量方案，可在系統中創建自定義程序。點擊 “開始測量" 后，設備自動啟動掃描，過程中避免觸碰樣品臺或設備機身。測量完成后，系統自動生成三維形貌圖與數據報告，可通過數據接口導出至電腦進行進一步分析。實驗結束后，關閉設備電源，蓋上鏡頭防塵蓋，清潔樣品臺與夾具，定期（建議每 3 個月）請專業人員對光學系統進行校準，確保設備長期處于良好工作狀態。
布魯克三維輪廓儀：實驗室微觀測量優選
上一個：
返回列表
服務熱線：
公司地址：
公司郵箱：
當前位置：首頁
產品中心
產品簡介
產品分類
相關文章