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奧林巴斯顯微鏡:材料分析的納米之眼OLS5100是奧林巴斯推出的激光共聚焦顯微鏡,專注于材料表面形貌分析與亞微米級三維測量。其核心創新在于將405nm短波長激光與MEMS掃描振鏡技術結合,實現0.12μm橫向分辨率與0.5nm高度測量精度,適用于半導體、新能源、生物材料等領域的表面粗糙度檢測。
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奧林巴斯顯微鏡:材料分析的納米之眼
OLS5100是奧林巴斯推出的激光共聚焦顯微鏡,專注于材料表面形貌分析與亞微米級三維測量。其核心創新在于將405nm短波長激光與MEMS掃描振鏡技術結合,實現0.12μm橫向分辨率與0.5nm高度測量精度,適用于半導體、新能源、生物材料等領域的表面粗糙度檢測。
光學系統采用雙光學路徑設計:
激光共聚焦通道:通過針孔濾波消除離焦光,在檢測鋰電池隔膜表面孔隙時,可清晰區分0.5μm的微孔與1μm的缺陷。
彩色成像通道:配備CMOS傳感器,支持同時獲取樣品形貌與顏色信息,例如在分析3D打印金屬零件的氧化層厚度時,可同步觀察表面色澤變化。
掃描機制MEMS諧振掃描振鏡實現X軸高速掃描(100kHz),Galvano振鏡控制Y軸精確定位,掃描軌跡失真率<0.5%。在檢測手機玻璃蓋板表面劃痕時,單次掃描僅需2秒,較傳統白光干涉儀效率提升5倍。
物鏡配置提供10×至100×五檔專用LEXT物鏡,工作距離覆蓋0.35mm至10.4mm。以MPLAPON100XLEXT物鏡為例,其0.95數值孔徑可捕捉集成電路銅線表面的納米級顆粒,測量重復性達±0.01μm。
樣品固定使用磁性夾具固定金屬樣品,避免振動干擾;柔性樣品(如聚合物薄膜)需采用真空吸附臺。
參數設置在OLS51-BSW軟件中選擇“臺階高度測量"模式,設置掃描速度為50μm/s,采樣間隔為0.1μm。檢測太陽能電池板表面鍍膜厚度時,建議采用50×物鏡以平衡分辨率與視場范圍。
數據分析利用“智能實驗管理助手"自動生成測量報告,包含Ra(算術平均粗糙度)、Rz(最大高度)等12項參數。某光伏企業通過該功能發現鍍膜工藝偏差,使產品良率從82%提升至95%。
在航空航天領域,OLS5100被用于檢測渦輪葉片熱障涂層厚度。通過100×物鏡測量0.05mm級的涂層剝落,結合3D重建功能定位缺陷位置,為涂層修復工藝提供數據支持。
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