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澤攸
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澤攸 ZEM20:工業研發顯微表征平臺 制造業的研發環節(如半導體、航空航天、醫療器械),對產品微觀結構的超高分辨率表征與多維度分析是提升產品性能、突破技術瓶頸的關鍵。澤攸臺式掃描電子顯微鏡 ZEM20,憑借性能與強大的擴展能力,成為工業研發的核心顯微表征平臺。
澤攸 ZEM20:科研顯微研究平臺 在高校重點實驗室、科研機構的研究中,對微觀結構的超高分辨率分析與多維度表征是突破科研瓶頸的關鍵。澤攸臺式掃描電子顯微鏡 ZEM20,憑借性能與豐富的擴展功能,成為開展前沿微觀研究的高級平臺。
澤攸 ZEM18:科研機構微觀分析利器 對于經費有限、空間緊張的小型科研團隊或初創企業,澤攸臺式掃描電子顯微鏡 ZEM15 以其高性價比與易維護性,成為微觀分析工作的實用工具,助力完成基礎科研與產品研發中的顯微觀察任務。
澤攸 ZEM18:工業質檢顯微檢測助手 對于經費有限、空間緊張的小型科研團隊或初創企業,澤攸臺式掃描電子顯微鏡 ZEM15 以其高性價比與易維護性,成為微觀分析工作的實用工具,助力完成基礎科研與產品研發中的顯微觀察任務。
澤攸 ZEM15:小型科研團隊顯微分析工具 對于經費有限、空間緊張的小型科研團隊或初創企業,澤攸臺式掃描電子顯微鏡 ZEM15 以其高性價比與易維護性,成為微觀分析工作的實用工具,助力完成基礎科研與產品研發中的顯微觀察任務。
澤攸 ZEM15:高校教學顯微觀察優選 在高校基礎教學與入門級科研實驗中,一款操作便捷、性能可靠的臺式掃描電子顯微鏡(SEM)能為學生與科研人員提供直觀的微觀觀察體驗。澤攸臺式掃描電子顯微鏡 ZEM15,憑借貼合教學場景的設計與實用性能,成為眾多高校實驗室的常用設備。