探索 Sensofar 白光干涉儀開啟微觀測量新篇 在科研與工業制造邁向精密化的當下，微觀世界的精確測量愈發關鍵。Sensofar 白光干涉儀，憑借前沿技術與精心設計，成為諸多領域探索微觀奧秘、把控產品質量的得力伙伴。
產品細節：精巧設計，操作便利
Sensofar 白光干涉儀造型緊湊，不占過多空間，可輕松適配各類實驗與生產環境。儀器外觀線條流暢，盡顯工藝美感。其操作界面簡潔直觀，功能按鍵布局合理，即便是初次接觸的使用者，也能迅速熟悉操作流程，高效開展測量工作。設備的樣品臺設計精妙，能夠穩固承載不同形狀與尺寸的樣品，同時支持靈活調整，確保樣品處于優良測量位置。
產品性能：多元技術，穩定可靠
這款儀器融合共聚焦顯微鏡與白光干涉測量等多種技術。共聚焦模式在應對高陡坡、不透明或高反射率樣品時表現，可清晰捕捉復雜表面的細微結構。白光干涉模式則在光滑表面測量方面優勢，能夠提供縱向分辨率，特別適用于光學薄膜、半導體晶圓等超精密檢測場景。兩種模式可根據樣品特性自動切換或協同使用，極大地拓展了儀器的適用范圍，確保在不同樣品上都能獲取精準的測量數據。并且，設備在運行過程中展現出良好的穩定性，受外界環境干擾影響較小，為測量結果的可靠性提供有力保障。
用材講究：品質之選，耐用持久
Sensofar 白光干涉儀在選材上極為用心。核心光學部件選用高品質光學玻璃，具備出色的透光性與低色散特性，能有效減少光線傳播過程中的能量損失與圖像畸變，確保測量成像的清晰度與準確性。儀器內部的機械結構采用高強度、耐腐蝕的金屬材料，不僅保證了設備整體的穩固性，還顯著提升了其抗磨損能力，即便長期處于高頻使用狀態，也能維持良好的性能，延長設備的使用壽命，降低用戶的使用成本。
型號多樣，參數豐富
以旗艦產品 S neox 為例，其橫向分辨率可達 0.14μm，縱向精度更是突破 0.1nm，能夠精準識別極其微小的表面特征變化。設備支持多種放大倍數物鏡切換，滿足不同尺寸樣品與測量精度需求。同時，具備快速掃描功能，可在短時間內完成大面積樣品的測量工作，顯著提升檢測效率。此外，Sensofar 還有適用于不同應用場景的其他型號產品，如用于工業在線檢測的 Sonix 系統，憑借高速攝像頭與優化光學設計，將測量速度提升至傳統干涉系統數倍，且在保持高垂直分辨率的同時，實現了對大批量生產產品的實時質量監控。
廣泛用途：多領域大顯身手
在半導體制造領域，Sensofar 白光干涉儀發揮著至關重要的作用。它能夠精確檢測晶圓表面粗糙度、薄膜厚度均勻性以及蝕刻工藝后的臺階高度，為芯片制造的良品率提供堅實保障。例如在 5G 通信用碳化硅基晶圓制備過程中，借助儀器的白光干涉模式，可量化晶體生長的均勻性，有效避免因表面缺陷引發的芯片性能衰減問題。在光學鏡片生產中，可用于檢測透鏡、反射鏡等元件的表面瑕疵，如劃痕、凹坑、污染以及面形誤差，確保光學元件的成像質量。在消費電子零部件檢測方面，對于手機玻璃蓋板、陶瓷背板等部件的表面粗糙度與缺陷測量，能夠滿足產線 100% 全檢的嚴格要求，通過高速掃描與 AI 缺陷分類技術，實現實時質量控制，提升產品品質。
使用說明：規范操作，保障效果
初次使用 Sensofar 白光干涉儀時，需仔細檢查設備外觀有無損壞，各部件連接是否牢固。將儀器放置在平穩、無振動的工作臺上，并確保工作環境溫度、濕度適宜。連接好電源及相關配件后，開啟設備進行預熱，待設備穩定后，依據樣品特性選擇合適的測量模式與參數。放置樣品時，務必小心輕放，避免損傷樣品與儀器樣品臺。測量過程中，密切關注儀器運行狀態，如發現圖像異常、測量數據波動過大等情況，應立即停止測量，排查故障原因。測量完成后，及時關閉設備電源，清理樣品臺，并定期對儀器進行清潔與維護，確保設備始終處于良好的工作狀態。
Sensofar 白光干涉儀憑借其出色的設計、穩定的性能、豐富的功能以及廣泛的適用性，為科研工作者與工業生產者提供了可靠的微觀測量解決方案，助力各行業在精密測量領域不斷突破，邁向新的高度。探索 Sensofar 白光干涉儀開啟微觀測量新篇
當前位置：
相關文章
上一個：
返回列表
服務熱線：
公司地址：
公司郵箱：
產品簡介
產品分類