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PRODUCTS CNTER
產品簡介
Sensofar三維輪廓儀：共聚焦與干涉測量結合Sensofar白光干涉儀采用非接觸式光學測量技術，適用于微納米級表面形貌分析，可滿足半導體、精密制造、材料科學等領域的高精度檢測需求。
產品分類
Sensofar三維共聚焦白光干涉光學輪廓儀采用多模式測量技術，結合共聚焦顯微鏡和白光干涉功能，適用于微納米級表面形貌分析，滿足科研與工業檢測需求。Sensofar三維輪廓儀：共聚焦與干涉測量結合
多模式測量：支持共聚焦顯微鏡（高分辨率）、白光干涉（大范圍）、自動切換模式，適應不同樣品特性。
光學系統：高數值孔徑（NA）物鏡，搭配低噪聲CMOS傳感器，提高成像清晰度。
掃描速度：高速掃描模式可縮短檢測時間，適合批量樣品測量。
機身采用穩定合金框架，減少環境振動干擾。
光學模塊防塵防霉處理，適應實驗室及工業環境。
| 參數 | 指標 |
|---|---|
| 垂直分辨率 | 0.1nm（干涉模式） |
| 橫向分辨率 | 0.3μm（共聚焦模式） |
| 最大掃描范圍 | 10mm（Z軸） |
| 測量速度 | ≤3秒/單次掃描（高速模式） |
S neox 5：多功能型，支持共聚焦、干涉、焦點變化三種模式。
S neox 3：經濟實用型，適用于常規表面檢測。
半導體晶圓、MEMS器件3D形貌分析
光學鏡片、涂層表面粗糙度檢測
精密加工件、生物材料微觀結構測量
開機預熱10分鐘，確保系統穩定。
根據樣品反射率選擇共聚焦或干涉模式。
使用校準標準片定期校驗儀器精度。Sensofar三維輪廓儀：共聚焦與干涉測量結合