在微觀測量領域，Sensofar S neox 三維共聚焦白光干涉光學輪廓儀以其創新融合的技術，成為探索微觀世界的有力工具。Sensofar 微觀世界的探索先鋒
產品細節
S neox 設計緊湊，機身小巧精致，易于安置在各類實驗室或生產車間的臺面上。其操作界面簡潔直觀，通過清晰的顯示屏與便捷的控制按鍵，用戶能迅速完成測量模式選擇、參數調整等操作。樣品臺采用高精度的平移與旋轉機構，可靈活精準地定位樣品，確保測量區域準確無誤。設備的光學部分配備了可調節的遮光罩，有效減少外界光線干擾，保證測量環境的穩定性。
產品性能
這款輪廓儀將共聚焦、干涉和多焦面疊加技術集于一身。共聚焦技術提供高橫向分辨率，可清晰呈現樣品表面細節，尤其適合測量高斜率表面；干涉技術能實現亞埃分辨率，在測量高度光滑表面時表現出色；Ai 多焦面疊加技術則可快速測量大粗糙表面形狀。測量過程中，數據采集連貫穩定，能適應從粗糙到超光滑等各種表面特性的樣品測量。
用材講究
S neox 在選材上十分用心。核心光學部件采用高透光率、低色散的優質光學玻璃，確保光線傳輸穩定，成像清晰準確。設備內部的機械傳動部件選用耐磨、高強度的合金材料，保障長期使用過程中的運動精度與穩定性。外殼采用堅固且具有一定抗腐蝕能力的材質，有效保護內部精密元件。
參數詳情
廣泛用途
在半導體制造中，可精確測量芯片表面的微小結構、刻蝕深度等，助力提升芯片性能與生產質量；在光學元件生產里，能檢測透鏡、反射鏡等的表面瑕疵與面形誤差，保障光學成像質量；在材料科學研究中，用于分析薄膜厚度、表面微觀結構，為新材料研發提供關鍵數據支持。
使用說明
使用前，將設備放置在平穩、無振動的工作臺上，檢查電源連接及各部件是否正常。安裝樣品時，根據樣品形狀與尺寸，利用樣品臺的調節機構將其穩固固定，并確保表面清潔無雜質。通過操作界面選擇合適的測量模式與參數，如物鏡倍數、掃描范圍等。測量過程中，避免觸碰設備，防止干擾測量。測量結束后，及時清理樣品臺，定期對光學鏡頭進行清潔與保養，以維持設備的良好性能。憑借技術融合、出色的性能與廣泛的適用性，Sensofar S neox 成為微觀測量領域的，為眾多行業的精密檢測與研究工作提供可靠支持。Sensofar 微觀世界的探索先鋒
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