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產品中心
PRODUCTS CNTER
產品簡介
多技術融合：S neox應對復雜測量挑戰?在現代自動化生產線上，如何將高精度的三維檢測技術無縫集成，是實現智能制造的關鍵一環。Sensofar的S mart2集成式3D共焦白光干涉測量頭，正是為此而生的解決方案。它將復雜的光學系統濃縮在一個緊湊的工業級外殼內，易于集成到機械臂、CNC機床或定制自動化設備中。
產品分類
面對日益復雜的樣品和更高的檢測要求，單一測量技術有時會顯得力不從心。Sensofar S neox的多技術融合特性，使其能夠從容應對各種復雜的表面測量挑戰，為用戶提供一個更全面、更可靠的工具。Sensofar新型共聚焦白光干涉輪廓儀
產品細節與性能
S neox的“多技術融合"并非簡單拼湊，而是深層次整合。其智能系統能根據預設的程序，在同一視場內自動切換不同的測量技術。例如，可以先使用共聚焦模式快速掃描整個區域并識別出具有不同特征的子區域，然后針對光滑區域自動切換到干涉模式進行納米級精度的測量。
這種智能的工作流程不僅保證了每個特征都能用最合適的技術進行測量，還避免了人為切換帶來的誤差和時間消耗。True Color技術還能在測量形貌的同時，捕獲真實的表面顏色信息，為分析提供更多維度的參考。
用途深入解析
在MEMS器件測量中，既有高深寬比的結構（適合共聚焦），又有光滑的反射面（適合干涉），S neox可一次測量全面表征。在透明薄膜測量中，共聚焦模式可以過濾掉底層反射的干擾，準確測量薄膜表面形貌。在混合材料樣品上，不同材質的反射率差異巨大，多技術選擇確保了測量的成功率。
使用說明
用戶可以在SensoMAP軟件中輕松設置測量序列（Recipe），將不同技術的測量步驟、物鏡選擇、參數設置等保存下來。日后遇到同類樣品，只需調用該Recipe，即可實現一鍵式全自動測量，極大降低了對操作人員的技術要求，保證了測量結果的一致性和可重復性。Sensofar新型共聚焦白光干涉輪廓儀