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三維光學(xué)輪廓儀
Sensofar白光干涉儀:多維表面測(cè)量解決方案 Sensofar白光干涉儀是一款功能全面、性能穩(wěn)定的表面測(cè)量設(shè)備,適用于多種高精度測(cè)量需求,是科研和工業(yè)應(yīng)用中的理想選擇。
Sensofar白光干涉儀解鎖微觀形貌“多面手” 在科研與工業(yè)制造邁向精密化的當(dāng)下,微觀世界的精確測(cè)量愈發(fā)關(guān)鍵。Sensofar 白光干涉儀,憑借前沿技術(shù)與精心設(shè)計(jì),成為諸多領(lǐng)域探索微觀奧秘、把控產(chǎn)品質(zhì)量的得力伙伴。
探索 Sensofar 白光干涉儀開啟微觀測(cè)量新篇 在科研與工業(yè)制造邁向精密化的當(dāng)下,微觀世界的精確測(cè)量愈發(fā)關(guān)鍵。Sensofar 白光干涉儀,憑借前沿技術(shù)與精心設(shè)計(jì),成為諸多領(lǐng)域探索微觀奧秘、把控產(chǎn)品質(zhì)量的得力伙伴。
Sensofar S Neox多模式光學(xué)3D表面解決方案 Sensofar S Neox 是一款*的光學(xué)3D表面輪廓儀,整合了共聚焦、干涉和聚焦變化三種測(cè)量技術(shù),適用于高精度表面形貌分析。該設(shè)備廣泛應(yīng)用于微電子、光學(xué)元件、精密加工及科研領(lǐng)域,提供快速、準(zhǔn)確的非接觸式測(cè)量方案。
探索Sensofar S neox高效的3D表面測(cè)量方案 Sensofar S neox是一款專為工業(yè)和科研領(lǐng)域設(shè)計(jì)的非接觸式3D光學(xué)輪廓儀,以其緊湊的設(shè)計(jì)、靈活的性能和多功能性,成為表面測(cè)量領(lǐng)域的理想選擇。
Sensofar S neox“四維協(xié)同”重塑微觀世界 作為Sensofar第五代干涉共焦顯微鏡,S neox系列突破傳統(tǒng)單一技術(shù)局限,通過共聚焦掃描、白光干涉、相位差干涉、AI多焦面融合四大模式協(xié)同工作,實(shí)現(xiàn)從粗糙表面(Ra10μm)到超光滑表面(Ra0.1nm)的全場(chǎng)景覆蓋。
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