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三維光學(xué)輪廓儀
Sensofar
Sensofar白光干涉儀:高分辨表面形貌測量 Sensofar白光干涉儀采用非接觸式光學(xué)測量技術(shù),適用于微納米級表面形貌分析,可滿足半導(dǎo)體、精密制造、材料科學(xué)等領(lǐng)域的高精度檢測需求。
Sensofar白光干涉儀高分辨表面分析解決方案 Sensofar白光干涉儀采用優(yōu)良的光學(xué)干涉技術(shù),為微納米級表面形貌測量提供可靠解決方案,廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、精密制造和材料科學(xué)研究領(lǐng)域。
Sensofar白光干涉儀:多維表面測量解決方案 Sensofar白光干涉儀是一款功能全面、性能穩(wěn)定的表面測量設(shè)備,適用于多種高精度測量需求,是科研和工業(yè)應(yīng)用中的理想選擇。
Sensofar白光干涉儀解鎖微觀形貌“多面手” 在科研與工業(yè)制造邁向精密化的當(dāng)下,微觀世界的精確測量愈發(fā)關(guān)鍵。Sensofar 白光干涉儀,憑借前沿技術(shù)與精心設(shè)計(jì),成為諸多領(lǐng)域探索微觀奧秘、把控產(chǎn)品質(zhì)量的得力伙伴。
探索 Sensofar 白光干涉儀開啟微觀測量新篇 在科研與工業(yè)制造邁向精密化的當(dāng)下,微觀世界的精確測量愈發(fā)關(guān)鍵。Sensofar 白光干涉儀,憑借前沿技術(shù)與精心設(shè)計(jì),成為諸多領(lǐng)域探索微觀奧秘、把控產(chǎn)品質(zhì)量的得力伙伴。
Sensofar S Neox多模式光學(xué)3D表面解決方案 Sensofar S Neox 是一款*的光學(xué)3D表面輪廓儀,整合了共聚焦、干涉和聚焦變化三種測量技術(shù),適用于高精度表面形貌分析。該設(shè)備廣泛應(yīng)用于微電子、光學(xué)元件、精密加工及科研領(lǐng)域,提供快速、準(zhǔn)確的非接觸式測量方案。
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